Trapping of edge dislocations by a moving smectic-A smectic-B interface

(Received 6 May 1991, accepted 14 June 1991)

Abstract
We analyze how the motion of the edge dislocations of the smectic-A liquid crystal allows the system to relax plastically the stresses that are generated during the growth of the smectic-B plastic crystal. These stresses are both due, to the density difference between the two phases, and to the layer thickness variation at the phase transition. In particular, we calculate under which conditions a dislocation can be trapped by the smectic-B phase. Finally, we suggest that this dynamical trapping is responsible for the very large amount of stacking faults observed by X-ray diffraction.

Résumé
Nous analysons comment le mouvement des dislocations coin du cristal liquide smectique A permet de relaxer plastiquement les contraintes induites par la croissance du cristal plastique smectique B. Ces contraintes sont engendrées à la fois par la différence de densité qui existe entre les deux phases et par la variation d'épaisseur des couches à la transition. Nous calculons en particulier dans quelles conditions une dislocation coin peut être piégée par le smectique B. Enfin, nous suggérons que ce piégeage dynamique est à l'origine de la très forte densité de fautes d'empilement qui est couramment observée aux rayons X dans la phase B.